ГОСТ Р 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
от 0 руб.
Есть в наличии
Рассчитать доставку
Информация о документе
Номер
ГОСТ Р 8.698-2010
Название
Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра
Статус
ДЕЙСТВУЕТ
Количество страниц
38
Подробная информация
Цена действительна только для интернет-магазина и может отличаться от цен в розничных магазинах
Описание
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм.Информация о документе
|
Номер
|
ГОСТ Р 8.698-2010 |
|
Название
|
Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Методика выполнения измерений с помощью малоуглового рентгеновского дифрактометра |
|
Статус
|
ДЕЙСТВУЕТ |
|
Количество страниц
|
38 |
|
Действует с
|
01.09.2010 |
|
КГС
|
Т86.1 |
|
ОКС
|
17.040.01 |
|
Ведомство
|
НАЦИОНАЛЬНЫЙ СТАНДАРТ РФ |
|
Аннотация
|
Настоящий стандарт устанавливает методику выполнения следующих измерений с помощью автоматического рентгеновского малоуглового дифрактометра: - максимальных размеров и электронных радиусов инерции наночастиц в монодисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - распределения наночастиц по размерам в полидисперсных системах в диапазоне от 1 до 100 нм; - общей толщины и размера периода повторения слоев в многослойных пленках толщиной от 1 до 100 нм. |
|
Артикул
|
49978 |